論文

項目露出率を最小化する複数等質テスト構成手法 日本テスト学会大会発表賞(第7回)

発表年月
2013年8月

項目バンクから複数の等質テストを構成する際に、テスト間に重複を許した条件で最大項目露出率が最小となる手法を提案しました。以前の手法よりも少ない露出率で同等のテスト数を構成可能であることが実際の項目バンクに適用することで確認されました。

発表者
石井隆稔(電気通信大学)
舛田博之
仁田光彦
植野真臣(電気通信大学)
出典
日本テスト学会第11回大会
  • SHARE
  • メール
  • リンクをコピー リンクをコピー
    コピーしました
  • Facebook
  • LINE
  • X

関連する記事